جلد 6، شماره 2 - ( مجله سنجش و ایمنی پرتو، بهار 1397 )                   جلد 6 شماره 2 صفحات 25-32 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print


دانشگاه صنعتی شاهرود
چکیده:   (2758 مشاهده)
ضریب انباشت عامل مهمی در تعیین ضخامت حفاظ پرتو­های گاما و ایکس می­ باشد به نحوی که بدون در نظر گرفتن این ضریب ضخامت حفاظ کم­تر از آن چیزی که مورد انتظار است، اندازه­ گیری شده و منجر به خطرات پرتو­گیری بیش از حد کارکنان و یا بیماران می ­شود. با توجه به اینکه ضریب انباشت برای چشمه ­های نقطه­ ای همگن تک انرژی محاسبه شده است اما محاسبه ­ی این ضریب برای چشمه ­هایی با طیف انرژی پیوسته از طریق کد مونت کارلو MCNPX تاکنون مورد بررسی قرار نگرفته است. در این مطالعه سعی بر این است که تفاوت ضریب انباشت ناشی از چشمه­ ای با طیف انرژی پیوسته در مقایسه با چشمه ­ای تک انرژی بررسی شود. بنابراین ضریب انباشت پرتوگیری چشمه­ ای با طیف انرژی پیوسته با انرژی بیشینه­ ی 1 مگا الکترون­ولت (یک طیف انرژی نمونه) با چشمه ­ای تک انرژی با انرژی 1 مگا الکترون­ولت برای حفاظ آب، آهن و سرب تا 10 مسیر آزاد میانگین مورد محاسبه قرار گرفته و تفاوت چشمگیری در مقادیر به ­دست آمده مشاهده شده است. به نحوی که اختلاف نسبی بین ضریب انباشت پرتوگیری ناشی از چشمه ­ی تک انرژی و  چشمه ای با طیف انرژی پیوسته به ازای 1 تا 10 مسیر آزاد میانگین برای آب به ترتیب از 38% تا %39، برای آهن به ترتیب از %17 تا %30 و برای سرب به ترتیب از %8 تا %50 است. بر همین اساس در راستای محاسبه ­ی ضخامت حفاظ برای چشمه­ هایی با طیف انرژی پیوسته باید تمایز اساسی با چشمه­ های تک انرژی در نظر گرفته شود.
 
متن کامل [PDF 643 kb]   (494 دریافت)    
نوع مطالعه: كاربردي | موضوع مقاله: تخصصي